设备介绍
TOF-SIMS Tof-SIMS(飞行时间二次离子质谱)
表面定性元素分析
主要功能
表面元素定性分析
技术指标
高灵敏度表面分析
应用领域
表面污染物分析
咨询与预约
江苏第三代半导体研究院有限公司
中国江苏苏州工业园区金鸡湖大道99号纳米城东北区38栋
电话:15111145911
网址:www.iasemi.cn
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