设备介绍
TOF-DEPTH Tof-SIMS深度扫描
Tof-SIMS深度扫描
主要功能
深度剖析元素分布
技术指标
深度剖析模式
应用领域
薄膜元素深度分布
咨询与预约
江苏第三代半导体研究院有限公司
中国江苏苏州工业园区金鸡湖大道99号纳米城东北区38栋
电话:15111145911
网址:www.iasemi.cn
Tof-SIMS深度扫描
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