设备介绍
HR-XRD-H HR-XRD(机时)
XRR、RSM等复杂测试
主要功能
XRR镜面反射、RSM倒易空间图、面内小角衍射
技术指标
配备多种光学附件
应用领域
薄膜结构完整表征
咨询与预约
江苏第三代半导体研究院有限公司
中国江苏苏州工业园区金鸡湖大道99号纳米城东北区38栋
电话:15111145911
网址:www.iasemi.cn
XRR、RSM等复杂测试
XRR镜面反射、RSM倒易空间图、面内小角衍射
薄膜结构完整表征
江苏第三代半导体研究院有限公司
中国江苏苏州工业园区金鸡湖大道99号纳米城东北区38栋
电话:15111145911
网址:www.iasemi.cn