FIB-SEM 高阶FIB（双束聚焦离子束）

切割：TEM样品制备

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主要功能

常规TEM样品制备

FIB可精准切割出<100 nm的薄片，用于TEM观察。应用的材料类型包括：合金材、半导体、陶瓷材料等。