设备介绍
HALL-RT 常温Hall测试
方块电阻、载流子浓度、迁移率
主要功能
主要用于研究半导体材料（包括硅和化合物半导体以及金属氧化物薄膜）、光电材料等的电学特性，使用范德堡法可以测量材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。
技术指标
（1）样品固定方式：弹簧探针或引线焊接
（2）温度：变温+室温（可选）
（3）磁场：5000Gauss永磁铁，5000Gauss电磁场， 1.4T电磁场（可选）
（4）电阻率：10E-6~10E13 Ohm*cm
（5）载流子迁移率：10E-2~10E9 cm2/volt*sec
（6）载流子浓度：10E2~10E22cm-3
（7）电流范围：0.1 pA~10mA
（8）电压范围：+/-2.5V，最小可测到6X10E-6 V
（9）电阻范围：10 m Ohms~ 10G Ohms
（2）温度：变温+室温（可选）
（3）磁场：5000Gauss永磁铁，5000Gauss电磁场， 1.4T电磁场（可选）
（4）电阻率：10E-6~10E13 Ohm*cm
（5）载流子迁移率：10E-2~10E9 cm2/volt*sec
（6）载流子浓度：10E2~10E22cm-3
（7）电流范围：0.1 pA~10mA
（8）电压范围：+/-2.5V，最小可测到6X10E-6 V
（9）电阻范围：10 m Ohms~ 10G Ohms
应用领域
方块电阻、载流子浓度、迁移率测量
咨询与预约
江苏第三代半导体研究院有限公司
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