设备介绍
STRESS 薄膜应力/翘曲测试
薄膜应力、晶圆翘曲测量
主要功能
薄膜应力、晶圆翘曲测量(常温/80度/60度)
技术指标
多温度点测量
应用领域
薄膜应力评估
咨询与预约
江苏第三代半导体研究院有限公司
中国江苏苏州工业园区金鸡湖大道99号纳米城东北区38栋
电话:15111145911
网址:www.iasemi.cn
薄膜应力、晶圆翘曲测量
薄膜应力、晶圆翘曲测量(常温/80度/60度)
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