设备介绍
ELLIP-POINT 椭偏仪单点测试
薄膜厚度、光学常数测量
主要功能
薄膜厚度、光学常数测量
技术指标
M-2000DI 椭圆偏振测量仪
光谱有效范围：193-1690nm连续可调；
入射角范围：手动角45-90度，自动角40-90度；
光谱分辨率：0.5 nm；
配有自动相位补偿器，实现Δ在0～360°范围内的准确测量
光谱有效范围：193-1690nm连续可调；
入射角范围：手动角45-90度，自动角40-90度；
光谱分辨率：0.5 nm；
配有自动相位补偿器，实现Δ在0～360°范围内的准确测量
应用领域
薄膜厚度、光学常数测量
咨询与预约
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