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FIB-SEM - 高阶FIB(双束聚焦离子束) (¥5000.0/点)
FIB-TEM - 高阶FIB(TEM平面样品) (¥8000.0/点)
FIB-CROSS - 高阶FIB(器件横截面) (¥2500.0/小时)
P-FIB - P-FIB(等离子聚焦离子束) (¥3000.0/小时)
PIPS - PIPS(精密离子抛光系统) (¥2000.0/点)
ILION - ILion+(离子研磨系统) (¥1500.0/点)
TEM-Talos - Talos TEM(透射电镜) (¥2000.0/小时)
STEM-EDS - Talos STEM/EDS (¥2500.0/小时)
TEM-MAP - Talos EDS Mapping (¥3000.0/小时)
STEM-AC - 球差校正STEM(原子分辨) (¥3500.0/小时)
AC-EDS - 球差校正EDS(原子分辨) (¥4000.0/小时)
AC-EELS - 球差校正EELS (¥4000.0/小时)
SIMS - D-SIMS(二次离子质谱) (¥3500.0/点)
TOF-SIMS - Tof-SIMS(飞行时间二次离子质谱) (¥1500.0/小时)
TOF-DEPTH - Tof-SIMS深度扫描 (¥2000.0/小时)
XPS - XPS(X射线光电子能谱) (¥1500.0/小时)
UPS - UPS(紫外光电子能谱) (¥1500.0/小时)
AES - AES(俄歇电子能谱) (¥1500.0/小时)
GDMS - GDMS(辉光放电质谱) (¥3500.0/点)
XRF - XRF(X射线荧光光谱) (¥800.0/小时)
TXRF - TXRF(全反射X射线荧光) (¥5500.0/点)
ICPMS - ICP-MS(电感耦合等离子质谱) (¥600.0/点)
VPD-ICPMS - VPD-ICPMS(气相分解-ICPMS) (¥4000.0/点)
HR-XRD-H - HR-XRD(机时) (¥600.0/小时)
RSM-FAST - RSM(倒易空间图-普图) (¥1500.0/点)
RSM-FINE - RSM(倒易空间图-精细) (¥3500.0/点)
XRD-POWDER - 粉末XRD (¥1000.0/小时)
XRT - XRT(X射线形貌术) (¥4000.0/小时)
HALL-RT - 常温Hall测试 (¥300.0/点)
HALL-VT - 变温Hall测试 (¥2300.0/点)
RES-NC - 非接触方阻测量 (¥1000.0/点)
HALL-NC - 非接触Hall测试 (¥1500.0/点)
HIGH-R - 高阻测试 (¥1000.0/点)
MCV - MCV(汞探针CV) (¥800.0/点)
ECV - ECV(电化学CV) (¥700.0/小时)
IVCV - I-V/C-V测试(标准) (¥600.0/小时)
IVCV-HV - 高压I-V/C-V测试 (¥1500.0/小时)
SEM - SEM(扫描电镜) (¥750.0/小时)
SEM-MAP - SEM-EDS Mapping (¥1000.0/小时)
CL-EBIC - CL/EBIC(阴极荧光/电子束诱导电流) (¥1000.0/小时)
EBSD - EBSD(电子背散射衍射) (¥2000.0/小时)
AFM - AFM(原子力显微镜) (¥300.0/点)
AFM-H - AFM(机时) (¥600.0/小时)
PFM - PFM(压电力显微镜) (¥2000.0/小时)
KPFM - KPFM(开尔文探针力显微镜) (¥2000.0/小时)
EFM - EFM(静电力显微镜) (¥2000.0/小时)
CAFM - CAFM(导电原子力显微镜) (¥3000.0/点)
SCM - SCM(扫描电容显微镜) (¥3000.0/点)
SSRM - SSRM(扫描扩展电阻显微镜) (¥3000.0/点)
STRESS - 薄膜应力/翘曲测试 (¥1000.0/点)
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