型号:FST5000-M8
暂无设备介绍
检测晶圆薄膜(如SiO₂、Si₃N₄)的残余应力,避免因应力过大导致的膜裂、膜剥离、膜层皱褶等问题,提升器件稳定性。
暂无案例描述
联系我们
电话:15111145911
邮箱:rdai2021@iasemi.cn