型号:E3200
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1、可用于检测并区分颗粒、凹坑、凸起、划伤、污点、裂纹、PL黑点、PL Scratch、PL crystal缺陷等表面及荧光缺陷 2、可用于检测GaN衬底及PSS基GaN、Si基GaN及SiC基GaN等外延片的表面及荧光缺陷。
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