测试设备服务
配备国际先进的半导体测试分析设备,提供专业的测试服务
| 编号 | 设备名称 | 计费方式 | 价格 | 操作 |
|---|---|---|---|---|
| PL-325 |
PL光致发光谱(325nm)
325nm激光激发光致发光谱,2小时起步 |
按时 | ¥800.0 /小时 | 详情 |
| PL-532 |
PL光致发光谱(532nm)
532nm激光激发光致发光谱 |
按时 | ¥700.0 /小时 | 详情 |
| PL-VT |
变温PL测试
变温光致发光测试,含降温费3000元/样 |
按样 | ¥3000.0 /样+700元/小时 | 详情 |
| PL-MAP |
PL-Mapping面扫描
光致发光面分布成像 |
按样 | ¥1000.0 /片 | 详情 |
| MICRO-PL-RAMAN |
显微μ-PL/Raman
显微微区光致发光谱/拉曼光谱 |
按时 | ¥700.0 /小时 | 详情 |
| FTIR-NORM |
FTIR红外光谱(常规)
常规红外吸收光谱分析 |
按样 | ¥500.0 /样 | 详情 |
| FTIR-MICRO |
微区FTIR
微区红外光谱分析 |
按样 | ¥1000.0 /样 | 详情 |
| ELLIP-POINT |
椭偏仪单点测试
薄膜厚度、光学常数测量 |
按点 | ¥200.0 /点 | 详情 |
| ELLIP-MAP |
椭偏仪Mapping
薄膜厚度、光学常数面分布 |
按样 | ¥5000.0 /样 | 详情 |
| OTHER |
其他设备
未在列表中的其他测试需求 |
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