测试设备服务

配备国际先进的半导体测试分析设备，提供专业的测试服务

全部 样品制备 TEM分析 元素分析 X射线分析 电学测试 表面分析 光学测试
编号 设备名称 计费方式 价格 操作
SIMS D-SIMS（二次离子质谱）

掺杂和组分的深度分析

 按点 ¥3500.0 /U 详情
TOF-SIMS Tof-SIMS（飞行时间二次离子质谱）

表面定性元素分析

 按时 ¥1500.0 /小时 详情
TOF-DEPTH Tof-SIMS深度扫描

Tof-SIMS深度扫描

 按时 ¥2000.0 /小时 详情
XPS XPS（X射线光电子能谱）

表面元素及化学态分析

 按时 ¥1500.0 /小时 详情
UPS UPS（紫外光电子能谱）

价带结构分析

 按时 ¥1500.0 /小时 详情
AES AES（俄歇电子能谱）

表面元素分析

 按时 ¥1500.0 /小时 详情
GDMS GDMS（辉光放电质谱）

高纯材料杂质分析

 按样 ¥3500.0 /样 详情
XRF XRF（X射线荧光光谱）

元素成分分析

 按时 ¥800.0 /小时 详情
TXRF TXRF（全反射X射线荧光）

表面痕量元素分析

 按样 ¥5500.0 /样 详情
ICPMS ICP-MS（电感耦合等离子质谱）

液体样品元素分析

 按样 ¥600.0 /元素 详情
VPD-ICPMS VPD-ICPMS（气相分解-ICPMS）

硅片表面金属污染检测（6寸标准片）

 按样 ¥4000.0 /样 详情
OTHER 其他设备

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